在上一篇中，我們揭示了半導體測試面臨的核心挑戰，并介紹了數據前饋/反饋（DFF）機制如何打破數據孤島，實現測試流程的智能化轉型。

本篇將聚焦于DFF的核心驅動引擎——ACS Nexus，看看它如何在真實生產中創造價值，并推動測試從“執行”走向“決策”。

核心能力：ACS Nexus如何賦能智能測試？

在整個ACS RTDI平臺中，ACS Nexus是連接測試現場與數據智能的關鍵樞紐。

核心能力概覽：

實時數據采集：在測試過程中，ACS Nexus可持續采集關鍵數據，包括測量值、測試結果、設備狀態等。智能數據流轉：支持數據在測試流程中前饋至后段，或從后段反饋至前段，實現流程閉環。靈活數據結構：兼容標準數據與用戶自定義數據，適應多種測試需求與客戶場景。安全穩定傳輸：具備加密通信與異常處理機制，保障數據在高負載環境下的穩定性。快速接入與部署：支持標準化接口，客戶可快速集成，無需改動原有測試架構。開放接口：支持C++和Python，通過OneAPI和NexusTPI實現測試程序與應用的雙向通信。超易用：ACS Nexus在接口設計上追求“簡潔而強大”，將復雜性盡可能地封裝在系統內部。毫秒級響應：測試數據上傳和查詢最快可達毫秒級，滿足高并發場景。

打通測試全流程：DFF如何讓數據參與實時決策？

與傳統事后分析不同， DFF 機制讓不同階段的數據在生產過程中實時協同，參與決策。

工作流是這樣的：

1.數據寫入：在測試執行過程中，ACS Nexus實時采集標準測試數據（如測量值、Bin結果）并上傳；測試程序通過 NexusTPI 上傳自定義數據，同時應用程序可通過 oneAPI 上傳算法推理結果或統計信息。

2.數據流轉：所有數據在 ACS Unified Server 中根據用戶設定的規則進行篩選，并按需前饋到后續測試階段或反饋到前段流程。例如，上圖中晶圓測試數據被傳遞到封測廠的服務器。

3.數據分析：在最終測試階段，測試程序或應用程序可以通過 NexusTPI / OneAPI查詢指定芯片的晶圓階段數據，并結合當前測試數據進行綜合推理。

4.實時決策：測試程序通過 NexusTPI與應用程序交互，獲取最新推理結果，從而動態調整后續測試流程。

這一閉環讓測試流程具備“即時反應”能力：數據不僅被記錄，更成為驅動優化的基礎，支持客戶構建更靈活、更智能的測試策略。

應用落地：DFF如何在真實生產中創造價值？

降低測試成本：自適應測試流程

在傳統測試中，每個芯片都需要執行完整的測試流程；隨著芯片變得越來越復雜，生產周期要求越來越短，這種測試方法面臨許多挑戰：

大量的測試項目需要大量的測試時間。固定順序的測試流程難以滿足客戶的靈活性要求。一些高風險的測試項目無法優先處理，導致資源利用不足。

有DFF之后，可以這樣做：

1.在最終測試開始前，應用程序通過 OneAPI獲取該芯片在晶圓階段的數據，并結合當前數據進行分析。

2.算法識別低風險項并生成繞過列表，通過 NexusTPI回傳給測試程序。

3.測試程序在同一批次內調整執行順序，跳過冗余測試，優先處理關鍵項。

4.后續測試結果還能反饋到晶圓廠，進一步優化下一批策略。

通過這種跨階段數據驅動的動態調整，測試流程不再“一刀切”，而是針對每個芯片動態調整，減少測試時間，同時保障質量。

提升芯片質量：DFF + DPAT

汽車芯片對可靠性要求極高，任何缺陷都可能帶來巨額損失。DPAT（動態參數調整與測試）依賴當前批次數據，初始參考值通常在測試一定數量芯片后才計算，這意味著早期出貨仍存在風險。

有DFF之后，可以這樣做：

多臺設備生產同類芯片時，DFF讓這些設備實現數據共享，DPAT算法可基于更大數據集動態調整測試限值，識別潛在缺陷更精準。測試程序在測試開始時即可獲取最新限值，并在隨后的參數測試中應用，降低誤判率，減少PPM缺陷率。

跨機臺的數據協同讓DPAT從“批次優化”升級為“全線優化”，滿足AEC-Q001 Rev-D等高標準。

重塑測試流

半導體測試正面臨數據量激增、流程復雜和效率壓力。DFF提出的新機制，讓不同階段的數據協同工作：晶圓測試結果可以提前優化封裝測試，后道測試數據也能反向調整前道策略。這種機制讓測試策略更靈活，并為質量控制提供更充分的數據支持。

ACS Nexus作為DFF的核心引擎，提供開放接口和安全架構，支持客戶算法快速集成，幫助構建跨階段的數據閉環，加速測試流程智能化，推動制造走向數據驅動時代。